Описание
Malvern Panalytical NanoSight NS300 использует анализ отслеживания наночастиц (NTA) и позволяет быстрое, автоматизированное анализирование размера, распределения и концентрации наночастиц от 10 нм до 2000 нм в диаметре в жидкой среде.
NTA позволяет анализировать каждую частицу индивидуально, но одновременно, путем прямого наблюдения за диффузией и измерения событий диффузии. NanoSight также позволяет обнаруживать помеченные частицы при использовании флуоресцентного режима.
Дата производства: 19/11/2020
Серийный номер: 1229098/l
Напряжение питания: 100-240 В переменного тока
Возможности
Тип измерения: Анализ отслеживания наночастиц (NTA)
Быстрый анализ распределения размера и концентрации всех типов наночастиц от 0,01 до 1 мкм. Обнаружение меток при использовании в флуоресцентном режиме
Диапазон концентрации: от 106 до 109 частиц на мл
Камера с низким объемом потока предоставляет данные из всего 250 мкл образца
Режим потока для улучшенной статистики выборки
Красный лазер He-Ne 642 нм, макс. 40 мВт
Микроскоп с увеличением 20x
Компьютерное управление моторизованной фокусировкой
Камера: sCMOS
Флуоресценция: моторизованное колесо фильтров
Камера работает на 30 кадров в секунду (fps)
Диапазон контроля температуры: от 5 °C ниже окружающей до 50°
Программное обеспечение: Nanosight NTA версия 3.4
Последняя калибровка август 2022
Включает насос для шприца для анализа с постоянным потоком
Применения
- Экстрацеллюлярные везикулы (EV)
- Доставка лекарств и генотерапия
- Вакцины
- Биотерапевтики
- Наноматериалы/коллоиды/токсикология
- Ультратонкие пузырьки
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЙ АССИСТЕНТ ДЛЯ ОБРАЗЦОВ ДОБАВИТЬ 14,500.
Ассистент образцов хранит до 96 образцов и затем автоматически загружает их в прибор NanoSight. Данные NTA для 3x 60-секундных захватов могут быть сгенерированы для 96 образцов всего за 16 часов, с менее чем 30 минутами времени оператора, освобождая ценное время для других задач.
Специальный, интуитивно понятный интерфейс программного обеспечения позволяет устанавливать параметры измерения одинаковыми для всех образцов или групп образцов, или, альтернативно, для каждого образца могут быть применены разные параметры измерения.
