Описание
Система питания RHEED от Staib Instruments – Модель SI NEK200R2
Производитель: Staib Instruments GmbH (Германия)
Модель / Тип: SI NEK200R2
Серийный номер: 71122443
Категория: Источник высокого напряжения для систем RHEED (Отражательная дифракция электронов высокой энергии)
Состояние: Подержанный, снят в рабочем состоянии из Университета Висконсин–Ошкош (UWO). Устройство включается. Один пластиковый регулятор на передней панели отсутствует (см. фото). Продается как есть.
Описание
Этот источник питания RHEED от Staib Instruments NEK200R2 является высоковольтным драйвером электронного пучка, предназначенным для исследований в области науки о поверхности и тонких пленок. Он был профессионально демонтирован из функционирующей лабораторной установки университета (UWO) и имеет лишь незначительные косметические повреждения.
Источник обеспечивает стабильное ускоряющее напряжение и питание нити накала для электронных пушек Staib RHEED, позволяя получать высокоэнергетические электронные пучки для дифракционного анализа. Хотя само устройство не выполняет визуализацию, оно является важным компонентом в системах RHEED, где электронный пучок дифрагируется от поверхности образца и визуализируется на фосфорном экране или CCD-камере.
Ключевые особенности
- Высоковольтный выход для электронных пушек RHEED
- Цифровые дисплеи: Напряжение (кВ) и Ток (А)
- Передние элементы управления: Энергия, Нить накала (один регулятор отсутствует, все еще регулируется)
- Индикаторы состояния: Пучок ВЫКЛ, Блокировка, Питание
Задние подключения:
- Порты удаленного, диагностического и компьютерного управления
- Внешние входы (X, Y отклонение, Заглушка)
- Высоковольтный экранированный выход
- Разъем для отклонения
- IEC вход питания с защитой от перегрузки
- Заземляющий терминал
Входная мощность: 100–240 В переменного тока, 50/60 Гц, 3,15 А
Встроенный вентилятор охлаждения
Применения
- Осаждение тонких пленок (Системы MBE) – мониторинг роста в режиме реального времени
- Наука о поверхности и кристаллография – изучение реконструкций поверхности
- Электронная дифракция – визуализация атомного расположения в реальном времени
- Исследования в области материаловедения – анализ тонких пленок и наноструктур
Примечания к состоянию
Снято с работающей установки RHEED в Университете Висконсин–Ошкош.
Косметическое состояние хорошее с легкими следами износа.
Один передний регулятор